能煜說測厚儀和膜厚儀的差別

  超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量。
  
  凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量，如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類�？梢詫Ω鞣N板材和加工零件作精確測量，另一重要方面是可以對生產設備中各種管道和壓力容器進行監測，監測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度。廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。
  
  膜厚儀一般來說和涂層測厚儀是一類產品。
  
  膜厚儀一般是測氧化膜層厚度，常見的鋁基，銅基氧化，測量時候用涂層測厚儀選擇N（非磁性）探頭，這樣測鋁基等氧化層也稱為膜厚儀。
  
  涂層測厚儀正常情況下有兩種測量原理，配F合N探頭，或者FN一體探頭。氧化層一般是幾微米到十幾微米，但是普通的涂層測厚儀誤差比較大，需要用高精度的涂層測厚儀測量氧化層，比如中科樸道的PD-CT2涂層測厚儀就可以測量氧化層。
  
  兩者是只是根據材料有細微區別，不過現在使用者很多不了解，也相互稱呼。